TESCAN将推出新款FIB-SEM

    TESCAN将在2014年9月7日-12日在捷克共和国首都布拉格举行国际显微学会议上推出GAIA3 FIB-SEM工作站。由于LYRA FIB-SEM在国际市场上的成功，TESCAN此次推出了新款GAIA3 FIB-SEM。该GAIA3拥有新开发的超高分辨率扫描电镜镜筒和集成拉曼系统。在同类产品中独具特色，可满足生物技术，纳米技术和半导体领域的应用需求。

　　TESCAN首席运营官Martin Zadrazil表示：“ GAIA3继承了我们为客户提供超高分辨率的传统。GAIA3将扩大我们在市场上的客户群体。”

　　成熟的第三代TESCAN设计，确保了仪器最高的可靠性和正常的运行时间，以及TEM样品制备无与伦比的易用性，先进的电子束和离子光刻及各种形式的3D特性，包括冷冻一体化。该GAIA3的分辨率可达到<1.5纳米@1 keV和<3纳米@30千电子伏。