电子密度分析天平

详细资料： 
AEL/TEP系列电子密度分析天平
     系密度称量两用电子分析天平，它采用精密电子分析天平利用阿基米德定律，可对任何形状不规则的固体物质同时进行重量和比重的分析测量，适用于工矿企业，科研机构，大专院校实验室作质量比重的测量与分析。
AEL-200A
最大称量：200g
分度值：0.1mg
重复性：0.1mg
线性：±0.2mg
称盘尺寸：φ40/φ90mm
液合尺寸：120×120×70mm
防风罩有效高度：210mm
外型尺寸：220×400×360mm
TEP-500
最大称量：500g
分度值：10mg
重复性：10mg
线性：±15mg
称盘尺寸：φ40/φ80mm
液合尺寸：120×120×70mm
防风罩有效高度：200mm
外型尺寸：185×300×320mm
TEP-300
最大称量：300g
分度值：1mg
重复性：1mg
线性：±1.5mg
称盘尺寸：φ40/φ80mm
液合尺寸：120×120×70mm
防风罩有效高度：200mm
外型尺寸：185×300×320mm
TEP-200
最大称量：200g
分度值：1mg
重复性：1mg
线性：±1.5mg
称盘尺寸：φ40/φ80mm
液合尺寸：120×120×70mm
防风罩有效高度：200mm
外型尺寸：185×300×320mm
TEP-30
最大称量：30g/300g
分度值：1mg/10mg
重复性：1mg/10mg
线性：±1.5mg/±15mg
称盘尺寸：φ40/φ80mm
液合尺寸：120×120×70mm
防风罩有效高度：200mm
外型尺寸：185×300×320mm