WPA-200
WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其领先世界的光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器，最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。
主要特点:
- 操作简单，测量速度可以快到3秒。
- 采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
- 测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
- 具有多种分析功能和测量结果的比较。
- 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
- 市场占有率第一高的残余应力测量设备。
主要应用：
· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）
· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
· 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）
· 有机材料（球晶、FishEve）
技术参数：
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项次 |
项目 |
具体参数 |
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1 |
输出项目 |
相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】 |
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2 |
测量波长 |
520nm、543nm、575nm |
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3 |
双折射测量范围 |
0-3500nm |
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4 |
测量最小分辨率 |
0.001nm |
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5 |
测量重复精度 |
<1nm（西格玛） |
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6 |
视野尺寸 |
218x290mm-360×480mm（标准） |
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7 |
选配镜头视野 |
无选配 |
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8 |
选配功能 |
实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式 |
测量案例：
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