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立式光学计 JD-3(上海光学仪器厂 上光新光学)

 
 
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发货 上海
品牌 4852
过期 长期有效
更新 1970-01-01 08:00
 
详细说明
立式光学计 JD-3(上海光学仪器厂 上光新光学)
用标准量块与被测件作比较测量,如量块、量规、线缆、板块的厚度和圆柱、球形的直径、平行平面、外螺纹及其它精密零件的外形尺寸等,是计量室必备设备和经典教学仪器之一。
●  测量范围:0~180mm,直接测量±0.1mm.
●  示值误差:±0.2µm,示值稳定性0.1µm,光学投影屏读数.
●  显微镜放大倍数:1000×,分划板0.001mm,LED照明.
●  主要附件:测钩,测头测帽,螺纹测量装置,内测装置,标准环规等.
产品系列:数显立式光学计JDG-S2.
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